Mikolajick, Thomas: шукати на сайті Z-Library

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (265)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

Thermodynamic and Kinetic Origins of Ferroelectricity in Fluorite Structure Oxides

Park, Min Hyuk, Lee, Young Hwan, Mikolajick, Thomas, Schroeder, Uwe, Hwang, Cheol Seong

Журнал:

Advanced Electronic Materials

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.32 MB

english, 2018

Interpretation of azimuthal angle dependence of periodic gratings in Mueller matrix spectroscopic ellipsometry

Heinrich, Anett, Bischoff, Jörg, Meiner, Kurt, Richter, Uwe, Mikolajick, Thomas, Dirnstorfer, Ingo

Журнал:

Journal of the Optical Society of America A

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.50 MB

english, 2015

Multi-staged deposition of trench-gate oxides for power MOSFETs

Neuber, Markus, Storbeck, Olaf, Langner, Maik, Stahrenberg, Knut, Mikolajick, Thomas

Журнал:

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.61 MB

english, 2019

Atomic layer deposited TiOx/AlOx nanolaminates as moisture barriers for organic devices

Nehm, Frederik, Dollinger, Felix, Klumbies, Hannes, Müller-Meskamp, Lars, Leo, Karl, Singh, Aarti, Richter, Claudia, Schroeder, Uwe, Mikolajick, Thomas, Hossbach, Christoph, Albert, Matthias, Bartha,

Журнал:

Organic Electronics

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 731 KB

english, 2016

Pyroelectricity of silicon-doped hafnium oxide thin films

Jachalke, Sven, Schenk, Tony, Park, Min Hyuk, Schroeder, Uwe, Mikolajick, Thomas, Stöcker, Hartmut, Mehner, Erik, Meyer, Dirk C.

Журнал:

Applied Physics Letters

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.10 MB

english, 2018

Pattern Formation With Locally Active S-Type NbOₓ Memristors

Weiher, Martin, Herzig, Melanie, Tetzlaff, Ronald, Ascoli, Alon, Mikolajick, Thomas, Slesazeck, Stefan

Журнал:

IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 11 KB

english, 2019

Quantum and transport lifetimes in optically induced GaN/AlGaN 2DEGs grown on bulk GaN

KrÃ¼ckeberg, Luisa, Wirth, Steffen, Solovyev, Victor V., GroÃer, Andreas, Kukushkin, Igor V., Mikolajick, Thomas, Schmult, Stefan

Журнал:

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

Рік:

2020

Файл:

PDF, 3.13 MB

2020

Roadmap on emerging hardware and technology for machine learning

Xia, Qiangfei, Berggren, Karl K, Likharev, Konstantin, Strukov, Dmitri B, Jiang, Hao, Mikolajick, Thomas, Querlioz, Damien, Salinga, Martin, Erickson, John, Pi, Shuang, Xiong, Feng, Lin, Peng, Li, Can

Журнал:

Nanotechnology

Рік:

2020

Файл:

PDF, 5.49 MB

2020

Nonvolatile Memory Concepts Based on Resistive Switching in Inorganic Materials

Thomas Mikolajick, Martin Salinga, Michael Kund, Thorsten Kever

Журнал:

Advanced Engineering Materials

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 609 KB

english, 2009

Impact of carbon junction implant on leakage currents and defect distribution: Measurement and simulation

Guntrade Roll, Stefan Jakschik, Alexander Burenkov, Matthias Goldbach, Thomas Mikolajick, Lothar Frey

Журнал:

Solid-State Electronics

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.03 MB

english, 2011

Ferroelectricity in Simple Binary ZrO 2 and HfO 2

Müller, Johannes, Böscke, Tim S., Schröder, Uwe, Mueller, Stefan, Bräuhaus, Dennis, Böttger, Ulrich, Frey, Lothar, Mikolajick, Thomas

Журнал:

Nano Letters

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.65 MB

english, 2012

Reliability Characteristics of Ferroelectric $ \hbox{Si:HfO}_{2}$ Thin Films for Memory Applications

Mueller, Stefan, Muller, Johannes, Schroeder, Uwe, Mikolajick, Thomas

Журнал:

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.44 MB

english, 2013

Impact of layer thickness on the ferroelectric behaviour of silicon doped hafnium oxide thin films

Yurchuk, Ekaterina, Müller, Johannes, Knebel, Steve, Sundqvist, Jonas, Graham, Andrew P., Melde, Thomas, Schröder, Uwe, Mikolajick, Thomas

Журнал:

Thin Solid Films

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 691 KB

english, 2013

Reconfigurable Silicon Nanowire Transistors

Heinzig, André, Slesazeck, Stefan, Kreupl, Franz, Mikolajick, Thomas, Weber, Walter M.

Журнал:

Nano Letters

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.13 MB

english, 2012

Exploiting Memristive BiFeO 3 Bilayer Structures for Compact Sequential Logics

You, Tiangui, Shuai, Yao, Luo, Wenbo, Du, Nan, Bürger, Danilo, Skorupa, Ilona, Hübner, René, Henker, Stephan, Mayr, Christian, Schüffny, René, Mikolajick, Thomas, Schmidt, Oliver G., Schmidt, Heidemar

Журнал:

Advanced Functional Materials

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.56 MB

english, 2014

OLED compatible water-based nanolaminate encapsulation systems using ozone based starting layer

Singh, Aarti, Nehm, Frederik, Müller-Meskamp, Lars, Hoßbach, Christoph, Albert, Matthias, Schroeder, Uwe, Leo, Karl, Mikolajick, Thomas

Журнал:

Organic Electronics

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 856 KB

english, 2014

Integration of H 2 barriers for ferroelectric memories based on SrBi 2 Ta 2 O 9 (SBT)

Hartner, Walter, Schindler, Günther, Bosk, Peter, Gabric, Zonimir, Kastner, Markus, Beitel, Gerhard, Mikolajick, Thomas, Dehm, Christine, Mazuré, Carlos

Журнал:

Integrated Ferroelectrics

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.15 MB

english, 2000

Conduction Mechanisms and Breakdown Characteristics of $\hbox{Al}_{2}\hbox{O}_{3}$-Doped $\hbox{ZrO}_{2}$ High-$k$ Dielectrics for Three-Dimensional Stacked Metal–Insulator–Metal Capacitors

Knebel, Steve, Schroeder, Uwe, Zhou, Dayu, Mikolajick, Thomas, Krautheim, Gunter

Журнал:

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 829 KB

english, 2014

Thickness dependent morphology and electrical characteristics of SrBi 2 Ta 2 O 9 deposited by metal organic decomposition

Mört, Manfred, Nagel, Nicolas, Schindler, Günther, Mikolajick, Thomas, Hartner, Walter, Kastner, Marcus J., Dehm, Christine, Kohlstedt, Hermann, Waser, Rainer

Журнал:

Integrated Ferroelectrics

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 523 KB

english, 2001

Impact of platinum contamination on ferroelectric memories

Boubekeur, Hocine, Mikolajick, Thomas, Nagel, Nicolas, Dehm, Christine, Pamler, Werner, Bauer, Anton, Frey, Lothar, Ryssel, Heiner

Журнал:

Integrated Ferroelectrics

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 431 KB

english, 2001

[IEEE 2015 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS) - Bologna, Italy (2015.1.26-2015.1.28)] EUROSOI-ULIS 2015: 2015 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon - Effect of independently sized gates on the delay of reconfigurable silicon nanowire transistor based circuits

Trommer, Jens, Slesazeck, Stefan, Weber, Walter M., Heinzig, Andre, Baldauf, Tim, Mikolajick, Thomas

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.22 MB

english, 2015

Material Prospects of Reconfigurable Transistor (RFETs) – From Silicon to Germanium Nanowires

Trommer, Jens, Heinzig, André, Heinrich, Anett, Jordan, Paul, Grube, Matthias, Slesazeck, Stefan, Mikolajick, Thomas, Weber, Walter M.

Журнал:

MRS Proceedings

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 317 KB

english, 2014

Nonlinear Dynamics of a Locally-Active Memristor

Ascoli, Alon, Slesazeck, Stefan, Mahne, Hannes, Tetzlaff, Ronald, Mikolajick, Thomas

Журнал:

IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.79 MB

english, 2015

Low temperature process and thin SBT films for ferroelectric memory devices

Mört, Manfred, Schindler, Günther, Hartner, Walter, Kasko, Igor, Kastner, Marcus J., Mikolajick, Thomas, Dehm, Christine, Waser, Rainer

Журнал:

Integrated Ferroelectrics

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 631 KB

english, 2000

Correspondence - Dynamic leakage current compensation revisited

Schenk, Tony, Schroeder, Uwe, Mikolajick, Thomas

Журнал:

IEEE Transactions on Ultrasonics Ferroelectrics and Frequency Control

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.49 MB

english, 2015

Complex Internal Bias Fields in Ferroelectric Hafnium Oxide

Schenk, Tony, Hoffmann, Michael, Ocker, Johannes, Pešić, Milan, Mikolajick, Thomas, Schroeder, Uwe

Журнал:

ACS Applied Materials & Interfaces

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.43 MB

english, 2015

Breakdown and Protection of ALD Moisture Barrier Thin Films

Nehm, Frederik, Klumbies, Hannes, Richter, Claudia, Singh, Aarti, Schroeder, Uwe, Mikolajick, Thomas, Mönch, Tobias, Hoßbach, Christoph, Albert, Matthias, Bartha, Johann W., Leo, Karl, Müller-Meskamp,

Журнал:

ACS Applied Materials & Interfaces

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.98 MB

english, 2015

Silicon nanowires - a versatile technology platform

Mikolajick, Thomas, Heinzig, André, Trommer, Jens, Pregl, Sebastian, Grube, Matthias, Cuniberti, Gianaurelio, Weber, Walter M.

Журнал:

physica status solidi (RRL) - Rapid Research Letters

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 625 KB

english, 2013

[IEEE ESSDERC 2016 - 46th European Solid-State Device Research Conference - Lausanne, Switzerland (2016.9.12-2016.9.15)] 2016 46th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC) - Comparison of hafnia and PZT based ferroelectrics for future non-volatile FRAM applications

Fengler, Franz P. G., Pesic, Milan, Starschich, Sergej, Schneller, Theodor, Bottger, Ulrich, Schenk, Tony, Park, Min Hyuk, Mikolajick, Thomas, Schroeder, Uwe

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.80 MB

english, 2016

Silicon and germanium nanowire electronics: physics of conventional and unconventional transistors

Weber, Walter M, Mikolajick, Thomas

Журнал:

Reports on Progress in Physics

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.90 MB

english, 2017

Reliability comparison of ZrO2 based DRAM High-k Dielectrics under DC and AC Stress

Knebel, Steve, Zhou, Dayu, Schroeder, Uwe, Slesazeck, Stefan, Pesic, Milan, Agaiby, Rimoon, Heitmann, Johannes, Mikolajick, Thomas

Журнал:

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 668 KB

english, 2017

A computational study of hafnia-based ferroelectric memories: from ab initio via physical modeling to circuit models of ferroelectric device

Pešić, Milan, Künneth, Christopher, Hoffmann, Michael, Mulaosmanovic, Halid, Müller, Stefan, Breyer, Evelyn T., Schroeder, Uwe, Kersch, Alfred, Mikolajick, Thomas, Slesazeck, Stefan

Журнал:

Journal of Computational Electronics

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.66 MB

english, 2017

Insights into antiferroelectrics from first-order reversal curves

Hoffmann, Michael, Schenk, Tony, Pešić, Milan, Schroeder, Uwe, Mikolajick, Thomas

Журнал:

Applied Physics Letters

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 748 KB

english, 2017

Reconfigurable Si Nanowire Nonvolatile Transistors

Park, So Jeong, Jeon, Dae-Young, Piontek, Sabrina, Grube, Matthias, Ocker, Johannes, Sessi, Violetta, Heinzig, André, Trommer, Jens, Kim, Gyu-Tae, Mikolajick, Thomas, Weber, Walter M.

Журнал:

Advanced Electronic Materials

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.60 MB

english, 2017

Origin of Temperature-Dependent Ferroelectricity in Si-Doped HfO 2

Park, Min Hyuk, Chung, Ching-Chang, Schenk, Tony, Richter, Claudia, Hoffmann, Michael, Wirth, Steffen, Jones, Jacob L., Mikolajick, Thomas, Schroeder, Uwe

Журнал:

Advanced Electronic Materials

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.35 MB

english, 2018

[IEEE 2017 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) - South Lake Tahoe, CA, USA (2017.10.8-2017.10.12)] 2017 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) - Reliability aspects of novel anti-ferroelectric non-volatile memories compared to hafnia based ferroelectric memories

Pesic, Milan, Schroeder, Uwe, Slesazeck, Stefan, Mikolajick, Thomas, Mikolajick, Thomas

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 857 KB

english, 2017

Insights into Texture and Phase Coexistence in Polycrystalline and Polyphasic Ferroelectric HfO2 Thin Films using 4D-STEM

Grimley, Everett D., Frisone, Sam, Schenk, Tony, Park, Min Hyuk, Fancher, Chris M., Mikolajick, Thomas, Jones, Jacob L., Schroeder, Uwe, LeBeau, James M.

Журнал:

Microscopy and Microanalysis

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.12 MB

english, 2018

Designing Efficient Circuits Based on Runtime-Reconfigurable Field-Effect Transistors

Rai, Shubham, Trommer, Jens, Raitza, Michael, Mikolajick, Thomas, Weber, Walter M., Kumar, Akash

Журнал:

IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.33 MB

english, 2018

[IEEE ESSDERC 2019 - 49th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC) - Cracow, Poland (2019.9.23-2019.9.26)] ESSDERC 2019 - 49th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC) - Ultra-dense co-integration of FeFETs and CMOS logic enabling very-fine grained Logic-in-Memory

Breyer, Evelyn T., Mulaosmanovic, Halid, Trommer, Jens, Melde, Thomas, Dunkel, Stefan, Trentzsch, Martin, Beyer, Sven, Mikolajick, Thomas, Slesazeck, Stefan

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.35 MB

english, 2019

[IEEE 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - San Francisco, CA, USA (2019.12.7-2019.12.11)] 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - A 2TnC ferroelectric memory gain cell suitable for compute-in-memory and neuromorphic application

Slesazeck, Stefan, Ravsher, Taras, Havel, Viktor, Breyer, Evelyn T., Mulaosmanovic, Halid, Mikolajick, Thomas

Рік:

2019

Файл:

PDF, 1.45 MB

2019

[IEEE 2019 Device Research Conference (DRC) - Ann Arbor, MI, USA (2019.6.23-2019.6.26)] 2019 Device Research Conference (DRC) - Demonstration and Endurance Improvement of p-channel Hafnia-based Ferroelectric Field Effect Transistors

Winkler, Felix, Pesic, Milan, Richter, Claudia, Hoffmann, Michael, Mikolajick, Thomas, Bartha, Johann W.

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 970 KB

english, 2019

Universal Curie constant and pyroelectricity in doped ferroelectric HfO2 thin films

Lomenzo, Patrick D., Jachalke, Sven, Stoecker, Hartmut, Mehner, Erik, Richter, Claudia, Mikolajick, Thomas, Schroeder, Uwe

Журнал:

Nano Energy

Рік:

2020

Файл:

PDF, 2.64 MB

2020

Memory Technology â A Primer for Material Scientists

Schenk, Tony, Pesic, Milan, Slesazeck, Stefan, Schroeder, Uwe, Mikolajick, Thomas

Журнал:

Reports on Progress in Physics

Рік:

2020

Файл:

PDF, 2.52 MB

2020

[IEEE 2020 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW) - Honolulu, HI, USA (2020.6.13-2020.6.14)] 2020 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW) - Hafnium oxide as an enabler for competitive ferroelectric devices

Mikolajick, Thomas, Mulaosmanovic, Halid, Lomenzo, Patrick, Hoffmann, Michael, Slesazeck, Stefan, Schroeder, Uwe

Рік:

2020

Файл:

PDF, 3.21 MB

2020

[IEEE 2020 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) - Sevilla (2020.10.12-2020.10.14)] 2020 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) - Flexible Memory, Bit-Passing and Mixed Logic/Memory Operation of two Intercoupled FeFET Arrays

Breyer, Evelyn T., Mulaosmanovic, Halid, Slesazeck, Stefan, Mikolajick, Thomas

Рік:

2020

Файл:

PDF, 1.15 MB

2020

Influence of Oxygen Content on the Structure and Reliability of Ferroelectric Hf x Zr 1â x O 2 Layers

Materano, Monica, Mittmann, Terence, Lomenzo, Patrick D., Zhou, Chuanzhen, Jones, Jacob L., Falkowski, Max, Kersch, Alfred, Mikolajick, Thomas, Schroeder, Uwe

Журнал:

ACS Applied Electronic Materials

Рік:

2020

Файл:

PDF, 2.31 MB

2020

[IEEE 2020 IEEE Symposium on VLSI Technology - Honolulu, HI, USA (2020.6.16-2020.6.19)] 2020 IEEE Symposium on VLSI Technology - SoC compatible 1 T1 C FeRAM memory array based on ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2

Okuno, Jun, Kunihiro, Takafumi, Konishi, Kenta, Maemura, Hideki, Shute, Yusuke, Sugaya, Fumitaka, Materano, Monica, Ali, Tarek, Kuehnel, Kati, Seide, Konrad, Schroeder, Uwe, Mikolajick, Thomas, Tsukam

Рік:

2020

Файл:

PDF, 606 KB

2020

Field-Effect transistors as transducers in biosensors for substrates of dehydrogenases

Thomas Vering, Wolfgang Schuhmann, Hanns-Ludwig Schmidt, Thomas Mikolajick, Thomas Falter, Heiner Ryssel, Jiri Janata

Журнал:

Electroanalysis

Рік:

1994

Мова:

english

Файл:

PDF, 469 KB

english, 1994

Integration of stacked capacitor module with ultra-thin ferroelectric SrBi2Ta2O9 film for high density ferroelectric random access memory applications at low voltage operation

Manfred Moert, Thomas Mikolajick, Guenther Schindler, Nicolas Nagel, Igor Kasko, Walter Hartner, Christine Dehm, Hermann Kohlstedt, Rainer Waser

Журнал:

Thin Solid Films

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 539 KB

english, 2005

Alkali- and hydrogen ion sensing properties of LPCVD silicon oxynitride thin films

Paik-Kyun Shin, Thomas Mikolajick

Журнал:

Thin Solid Films

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 170 KB

english, 2003